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掃描俄歇微探針（SAM）

發布日期：2013-05-30

核心提示：掃描俄歇微探針（SAM）；基本功能：　�。�1）可進行樣品表面的微區選點分析（包括點分析，線分析和面分析）；　�。�2）可進行深度

掃描俄歇微探針（SAM）；

基本功能：

　�。�1）可進行樣品表面的微區選點分析（包括點分析，線分析和面分析）；

　　（2）可進行深度分析；

　�。�3）化學價態研究

用途：
納米薄膜材料，微電子材料的表面和界面研究及摩擦化學研究。

編輯：songjiajie2010

關鍵詞：化學價態

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